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Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium

Katalog der UB Augsburg (1/1)

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Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium

Autor/Mitarbeiter: Geier, Stephan  
Ausgabe, Verlagsort, Verlag, Jahr: Als Ms. gedr. - Düsseldorf, VDI-Verl., 1996
Umfang: 139 S.
ISBN: 3183223090
Inhaltstyp/Datenträger: Hochschulschrift
SIGNATUR : 85/UQ 8220 G312+2
 
Reihe/Zeitschrift : Fortschrittberichte VDI  :  Alle Einzelbände
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Autor/Mitarbeiter: Geier, Stephan
Titel: Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium
von: von Stephan Geier
Ausgabe: Als Ms. gedr.
Verlagsort: Düsseldorf
Verlag: VDI-Verl.
Jahr: 1996
Umfang: 139 S.
Enthält: Ill., graph. Darst.
Reihe: Fortschrittberichte VDI
Band: 223
Information: Zugl.: Augsburg, Univ., Diss., 1995
ISBN: 3183223090
Inhaltstyp/Datenträger: Hochschulschrift
RVK-Notation:
Hauptsprache: Deutsch
Land: |||ad| | m|||||||
Code (lokal): di di
URL Inhaltsverzeichnis: http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007111...
B3Kat-ID: BV010654511
SIGNATUR : 85/UQ 8220 G312+2
SIGNATUR : 01/UQ 8220 G312
SIGNATUR : 85/UQ 8220 G312